フィルム表面欠陥検査・測定装置 EasyInspect
メーカーDr. Schenk GmbH


- 高機能フィルム、各種シート、不織布、メッシュ、セパレーター、電極など幅広いアプリケーションに対応
- 膜質の分布(膜厚、空孔度など)も同時に測定可能(EasyMeasure)
- 300メーター/分 以上の量産ラインで採用実績あり
- カメラの台数を他社検査装置の半分以下で構成可能、コストメリット大
- 複数の光学チャンネル組み合わせたMIDA(Multiple Image Defect Analysis)技術により、欠陥を確実に分類
- 周期性、スジ状欠陥の検出
- インライン、オフライン検査など様々なニーズにカスタム対応
- 業界No.1の欠陥分類機能
- ネットワークシステム対応
- 市販マーカーとのI/F
- 自由に設定出来る画面レイアウト

対象フィルム例
- バッテリーフィルム
- インフレーションフィルム
- ディスプレーフィルム
- ITOフィルム
- ラミネートフィルム
対象フィルム例
- ピンホール
- 異物
- しわ
- 傷
- ストリーク傷
- 打痕
- 膜厚分布
- HAZE
- スジ
- 抜け
- 凹凸

不織布検出方法
- 乾式法
- 湿式法
- スパンボンド法
- メルトブローン法
- エアレイド法
- ケミカルボンド法
- サーマルボンド法
- ニードルパンチ法
検出例
- 白塊異物
- 異物
- 毛
- 打痕
- 坪量
レザー、カーボンファイバー、紙、金属
検出例










スジ欠陥
コーティング抜け欠陥
FE(フィッシュアイ)欠陥
その他
システム情報

コントローラー内蔵
超高速スマートカメラ

安定光量・長寿命LED
照明装置

- ダイナミック温度制御(水冷)による安定光量の供給
- 競合他社比3.5倍の高輝度LED(2.8M vs 0.8M lux)
- 50,000時間寿命(5年以上)
- LED最大長 12m
- フルスペクトラム対応:白、赤、琥珀、青、緑、紫外、赤外(一列に複数光源を配列可能)

MIDA(複数光学系測定)
MIDA技術による複数光学系(透過光学系×2 & 反射光学系×2) の構成例

フィルム検査

不織布検査

斜光照明測定
MD方向の欠陥検出(斜光照明 : Oblique)

高速・全面膜厚分布測定
(不織布 坪量測定)
EasyMeasure

欠陥分類機能
- 分類ツールソフトにてレシピ作成可能
- クライアントPCからレシピを本体PCへ送付可能(オプションソフトウェア)
- 検査履歴からの正解率確認機能
- 複数光学測定機能からの世界最高水準の分類機能

AI 機能
AI (Artificial Intelligence) による更なる進化

AIによる分類性能の更なる改善
